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本試驗法之目的為決定元件及裝備在地球表面暴露於太陽輻射環(huán)境時產(chǎn)生之效應(yīng)(包括熱、機械、化學、電性等)。
本試驗法所模擬環(huán)境之主要特徵為控制溫度條件下之太陽光譜能量分布及吸收的能量強度,以決定元件及裝備暴露於太陽輻射環(huán)境時產(chǎn)生之效應(yīng)。本試驗法包括三個試驗程序:
程序A:適用於熱效應(yīng)之評估。 程序B:適用於退化效應(yīng)之評估。 程序C:適用於光化學效應(yīng)之評估。
無限制。
試件必須依據(jù)相關(guān)規(guī)範規(guī)定之時間暴露在下述三個試驗程序之一:
每循環(huán)24小時,其中8小時連續(xù)照射,16小時保持黑暗,依需求重複執(zhí)行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)8.96 kWh/m2,約近似於自然條件之最嚴厲狀況)。
每循環(huán)24小時,其中20小時連續(xù)照射,4小時保持黑暗,m.shcxtf.com.cn依需求重複執(zhí)行(此程序提供之全輻射量為每日循環(huán)22.4 kWh/m2)。
試驗時間依相關(guān)規(guī)範的要求,一般較常採用下述三者之一 3循環(huán)(3天)。 10循環(huán)(10天)。 56循環(huán)(56天)。 溫度之容差為±2℃,輻照度(irradiance)容差如表1所示。
若本試驗法須控制濕度環(huán)境,則相關(guān)規(guī)範必須說明此濕度之控制係在輻射照射週期或在黑暗週期或整個試驗時間。
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